主要参数：
二次电子分辨率：1nm
最大放大倍数：100万倍
功能描述：该设备适用于物理、材料、半导体、超导体、化学、高分子、地质矿物、生物、医学等领域的微观研究和分析。
主要参数：
检出限In≤0.1 ppt
分析范围1-285 amu
功能描述：适用于各种样品的痕量、超痕量元素分析测试，同时能够进行同位素分析、元素形态分析。
主要参数：
角度重现性：0.0001°
能量分辨率：8.6%
功能描述：可进行粉末样品的定性、定量分析、结晶度测量以及介孔材料的小角衍射分析、残余应力分析等。广泛应用于合金、粉末冶金材料、半导体材料、陶瓷材料、水泥、玻璃、矿物、催化剂、碳纤维等材料的研究。
